Модель: Xradia 510 Versa
Производитель: ZEISS
Пространственное разрешение: 0,7 микрон
Максимальный размер образца: 300 мм.

Технология КТ обладает огромным потенциалом для представления трехмерных коллекторов глинистых сланцев, в частности, Nano - CT реализует трехмерное стереоскопическое наблюдение пористости нанометрового уровня с разрешением от 50 до 70 нм, если в сочетании с технологией обработки изображений можно количественно оценить взаимосвязанность анизотропию и пористость глинистых пластов.

Трёхмерные КТ - измерения глинистого сланца