Интеграция с системой наблюдения

Наблюдение всего процесса обработки образца и целевой области под микроскопом закрепляет образец на консоли образца, во время обработки образца образец может наблюдаться в режиме реального времени с помощью стереомикроскопа, угол наблюдения от 0 ° до 60 ° или до 30 °, а расстояние может быть измерено с помощью окулярной шкалы. Leica EMTXP также поставляется с ярким кольцевым светодиодным источником света для получения оптимальных визуальных эффектов.
Точное позиционирование и подготовка проб для крошечных целевых областей
> Наблюдение на месте с помощью стереомикроскопа
> Многофункциональная механическая обработка
> Автоматизированный контроль процесса обработки образцов
> Можно получить плоский зеркальный эффект
> Светодиодные кольцевые источники света с регулируемой яркостью, 4 сегмента необязательно

Для микроскопических образцов.

Определение местоположения, резка, шлифовка и полировка крошечных целей в миллиметровом и микрометровом масштабе является сложной задачей, и основные трудности связаны с:
« Цели слишком малы, их нелегко наблюдать
> Точное позиционирование цели или калибровка цели под углом затруднены
Обшлифовка и полировка до заданного места часто требуют много рабочей силы и времени
Маленькие цели легко теряются
> Образцы малы по размеру, их трудно эксплуатировать, часто приходится инкрустировать пакеты для захоронения

Комплексная система микронаблюдения и визуализации

Стереоскопический микроскоп Leica M80
> Дизайн параллельного светового пути: формирование параллельного светового пути через центральное объектное зеркало, гармонизация фокальной плоскости
Высокое разрешение: все изменения имеют высокое качество изображения и стабильную интенсивность света
> Эргономический дизайн: использование комфортного комфорта, без мышечного напряжения и усталости
Камера высокой четкости Leica IC80 HD *
> Бесшовная конструкция: устанавливается между оптической головкой и бинокуляром без добавления кинескопа или фотоэлемента
> Высококачественные изображения: коаксиальный световой путь с микроскопом для обеспечения качества изображения и получения изображений без отражения
> Предоставление динамических изображений высокой четкости, доступных для подключения или отключения компьютера
Светодиодные кольцевые источники света с регулируемой яркостью сегмента 4
Различные углы освещения раскрывают крошечные детали образца

Обработка образцов несколькими способами

Образец не нужно переносить, нужно просто переключить инструмент
Перемещение образцов туда и обратно не требуется, процесс обработки образцов может быть завершен простой заменой инструментов для обработки образцов, и весь процесс обработки образцов можно наблюдать в реальном времени с помощью микроскопа. По соображениям безопасности студия, в которой находятся инструменты и образцы, оснащена прозрачным защитным экраном, который позволяет избежать случайного контакта оператора с работающими деталями во время обработки образцов и предотвратить разбрызгивание обломков.
LEICA EM TXP может обрабатывать образцы следующим образом:
> Фрезерование
> Резка
> Измельчение
> Полировка
> Бурение