По мере того, как область научных исследований и социальных услуг продолжает расширяться, целевые компоненты, которые должны анализироваться исследователями / техником, становятся все более сложными, а содержание подлежащих измерению элементов становится все ниже и ниже. Анализ сложных образцов матрицы в таких отраслях, как окружающая среда, геологические рудники, пищевые продукты, биология, полупроводники, нефтехимия, металлургия, ядерная промышленность и т. Д., Часто затрудняется получением точных результатов из - за эффекта матрицы и наличия других видов помех. Основываясь на этой технологии спектрального разведения, была разработана интеллектуальная полностью автоматическая ионообменная система EXPEC 750, которая не только отделяет элемент, подлежащий измерению, от элемента, подверженного ионизации, но и обеспечивает обогащение элементов, подлежащих измерению, отделяет помехи, повышает чувствительность обнаружения и имеет очевидные преимущества при обнаружении следов и даже сверхследов в образце.