Технология окраски автомобилей

• Внешний вид прибора использует технологию окраски автомобиля и использует элегантный белый и синий цвета, демонстрируя слияние технологии прибора и моды.

Склад визуальных образцов

• Окно для образцов оборудовано свинцовым стеклом, которое позволяет непосредственно наблюдать за образцами в ходе испытаний.

Многопробное тестирование

· Непрерывные испытания нескольких образцов, беспилотные, экономят ваше драгоценное время.

• Возможные испытания отдельных образцов.

Краткое время анализа

• Время анализа короче, чем у обычного EDXRF;

• Общее время анализа EDXRF: 300 секунд, время анализа HeLeeX E9: 60 секунд.

Вакуумный / гелиевый дуплекс

● Первая в Китае и за рубежом, вакуумная / гелиевая двухсветовая система, которая может обнаруживать твердые, жидкие, порошковые образцы, легкие элементы, такие как Al, Si, P, S, Cl.

Радиационная защита

· Конструкция лабиринта, защита от свинцового стекла;

• Последующее облучение рентгеновскими трубками;

· Неправильная эксплуатация аварийной системы, быстрое отключение рентгеновских лучей 0.5uS;

• Доклады о радиационной безопасности приборов, подготовленные национальными органами.

Легко переносить

В нижней части прибора есть четыре движущихся колеса, которые могут быть закреплены или перемещены по мере необходимости.

Вес прибора 95 кг;

Легко заменить

• Испытательная пленка образца легко заменяется;

• Модульные коллиматоры, системы фильтров, в зависимости от разных клиентов, различные тестовые образцы оснащены различными материалами с различными коллиматорами апертуры.

Легко работать

• Программный интерфейс прост, прост в эксплуатации и может быть изучен за 30 минут;

• оснащается блок - схемой работы прибора, эксплуатацией прибора, обслуживанием прибора проще;

Более точные данные

Программное обеспечение оснащено тремя программными алгоритмами, настроенными в соответствии с различными материалами;

• самостоятельно разрабатывать независимые алгоритмы высокой и низкой энергии для эффективного улучшения разрешения элементов с низкой энергией;

• Общее разрешение EDXRF: 149EV, HeLeeX E9: 125EV;

Отличный анализ легких элементов.

Тестирование с более высоким разрешением P и S.

Стандартное отклонение S - элемента 20ppm.

· Ошибка тестирования 5%.