BX53 - P Параметры поляризованного микроскопа Olympus

BX53 - P Параметры поляризованного микроскопа OlympusМы предлагаем предложения по продажам по всей стране,

Оптическая система бесконечной дальней коррекции UIS2 и * оптический дизайн комбинированный Olympus BX53 - P поляризационный микроскоп обеспечивают производительность при применении поляризации. Расширяемые компенсаторы позволяют BX53 - P иметь достаточно возможностей для обработки наблюдений и измерений в любой соответствующей области.

UIS2Оптические элементы обеспечивают отличную масштабируемость.

Преимущество оптической системы UIS2 с бесконечной коррекцией поляризационного микроскопа Olympus BX53 - P предотвращает снижение производительности оптического микроскопа и устраняет влияние на оптическое увеличение микроскопа, даже если поляризационные элементы, такие как поляризационные пластины, цветные пластины или компенсаторы, вставляются в оптический путь. Поддерживая высокий уровень гибкости системы, BX53 - P также совместим с промежуточными аксессуарами системного микроскопа серии BX3, а также камерами и системами визуализации.

Поясная структура косого полевого камня в кварцевых мигающих породах. * Линейка показывает фактический размер выборки

МББАОптическая структура * шкала показывает фактический размер образца

Обновление поляризационных свойств

ACHN-PТехнология тонкого проектирования и производства, используемая в зеркалах UPLFLN - P, бесшовно сочетается с микроскопом. Микроскоп BX53 - P с поляризацией оснащен фильтрами с высоким значением EF в поляризационных и поляризационных пластинах, что обеспечивает * контрастность изображений. Для удовлетворения разнообразных потребностей в исследованиях и применении универсальные объективы серии UPLFLN - P разработаны с использованием различных методов наблюдения, включая Nomarski DIC и флуоресцентную микроскопию, а также поляризационные наблюдения.(Источник: Цэн Цянь прибор)
* ЭФ(Коэффициент затухания) - отношение яркости между параллельными и перекрестными поляризационными фильтрами. Чем выше значение EF, тем лучше эффект экстинкции.

Разнообразные компенсаторы

Olympus BX53 - PМикроскоп может использовать шесть различных компенсаторов, способных измерять различные горизонтальные задержки в диапазоне от 0 до 20 λ. Для облегчения измерений также предусмотрен метод прямого отсчета. С помощью компенсатора Senarmont * или Brace - Koehler можно получить более высокий контраст изображений, чтобы изменить уровень задержки во всем поле зрения.
* С зеленым фильтром IF 546 или IF 550.

Обновление поляризационных свойств

ACHN-PТехнология тонкого проектирования и производства, используемая в зеркалах UPLFLN - P, бесшовно сочетается с микроскопом. Микроскоп BX53 - P с поляризацией оснащен фильтрами с высоким значением EF в поляризационных и поляризационных пластинах, что обеспечивает * контрастность изображений. Для удовлетворения разнообразных потребностей в исследованиях и применении универсальные объективы серии UPLFLN - P разработаны с использованием различных методов наблюдения, включая Nomarski DIC и флуоресцентную микроскопию, а также поляризационные наблюдения.(Источник: Цэн Цянь прибор)
* ЭФ(Коэффициент затухания) - отношение яркости между параллельными и перекрестными поляризационными фильтрами. Чем выше значение EF, тем лучше эффект экстинкции.

Разнообразные компенсаторы

Olympus BX53 - PМикроскоп может использовать шесть различных компенсаторов, способных измерять различные горизонтальные задержки в диапазоне от 0 до 20 λ. Для облегчения измерений также предусмотрен метод прямого отсчета. С помощью компенсатора Senarmont * или Brace - Koehler можно получить более высокий контраст изображений, чтобы изменить уровень задержки во всем поле зрения.
* С зеленым фильтром IF 546 или IF 550.

Обновление поляризационных свойств

ACHN-PТехнология тонкого проектирования и производства, используемая в зеркалах UPLFLN - P, бесшовно сочетается с микроскопом. Микроскоп BX53 - P с поляризацией оснащен фильтрами с высоким значением EF в поляризационных и поляризационных пластинах, что обеспечивает * контрастность изображений. Для удовлетворения разнообразных потребностей в исследованиях и применении универсальные объективы серии UPLFLN - P разработаны с использованием различных методов наблюдения, включая Nomarski DIC и флуоресцентную микроскопию, а также поляризационные наблюдения.(Источник: Цэн Цянь прибор)
* ЭФ(Коэффициент затухания) - отношение яркости между параллельными и перекрестными поляризационными фильтрами. Чем выше значение EF, тем лучше эффект экстинкции.

Разнообразные компенсаторы

Olympus BX53 - PМикроскоп может использовать шесть различных компенсаторов, способных измерять различные горизонтальные задержки в диапазоне от 0 до 20 λ. Для облегчения измерений также предусмотрен метод прямого отсчета. С помощью компенсатора Senarmont * или Brace - Koehler можно получить более высокий контраст изображений, чтобы изменить уровень задержки во всем поле зрения.
* С зеленым фильтром IF 546 или IF 550.

Острые изображения в ортогональном и конусном изображениях

После наблюдения за аксессуаром с помощью конического зеркала U - CPA переключение между ортогональной поляризацией и коническим наблюдением является простым и быстрым. Фокусировка изображений конуса проста и точна. Использование диафрагмы поля зрения линзы Бургера позволяет ему постоянно получать острые и четкие конические изображения.

1. U-CPA, 2. U-P4RE, 3. U-AN360P-2, 4. U-OPA, 5. У-ПОК-2

Прочный и точный вращающийся грузовой стол

Устройство с вращающимися парами, установленное на платформе вращающегося перегрузочного устройства Olympus Microsographic BX53 - P, способно плавно вращать образцы. Кроме того, для проведения точных измерений каждые 45 градусов устанавливается устройство остановки щелчка. Если добавить двойную механическую несущую платформу, можно будет дополнительно завершить небольшое движение X - Y.